晶體面角恒等定律如何定義顯微鏡檢測晶粒（之三）
對于晶體的面角，必須要使用專業的工具來進行，
可以通過測角儀來進行角度的測定，
接觸測角儀的最初，所使用的是有刻度的半圓規，
或者是能夠進行旋轉的，那種直臂形狀的，
進行測量的時候，需要注意，將半圓規的底邊，還
有其旋轉的臂進行操作，將其和需要檢測的二晶面進
行靠近，
這樣就可以在半圓規上面進行數據的讀取，即對二
晶夾角數據的讀取，測角儀的操作比較簡單，而且方便，
但是其缺點是精度不夠，只能達到0.5度，那么這就
不適合使用在對細小晶體的測量。
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