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掃描電鏡用的電子光束專業(yè)顯微鏡制造（之二）
掃描電鏡可以跟一些線譜進(jìn)行結(jié)合運(yùn)用，如：
X射線的能譜就可以與其進(jìn)行配合，
這樣的結(jié)合，可以在進(jìn)行表面外形分析的時(shí)候
，同時(shí)還能夠進(jìn)行樣品元素的成分的分析，以及
其視野內(nèi)部元素的分布，
所以說，掃描電鏡的使用不單單是在光學(xué)顯微
鏡方面的延伸，而且還能夠通時(shí)進(jìn)行外形和成
分的分析，
物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的研究和分析，這是非常重要的
一種手段，在不同的分析中，使用率最高就是
表面結(jié)構(gòu)的研究。
這樣的工具不僅可以對金屬進(jìn)行檢查，或者是
非金屬方面斷口和切削表面等等的研究和分析，
以及其定性和定量的分析。
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